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絕緣材料測(cè)試儀器

高阻計(jì) 擊穿電壓測(cè)定儀表面體積電阻率測(cè)試儀耐電弧測(cè)試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀高溫直流測(cè)試系統(tǒng)

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HCLD-Ⅲ型高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2025-05-30

型號(hào)：HCLD-Ⅲ型

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產(chǎn)品概述：高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器為華測(cè)公司2013年重點(diǎn)科研產(chǎn)品之一，高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)精度高，擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理，采用高壓真空切斷技術(shù)，使試驗(yàn)過(guò)程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷，使數(shù)據(jù)采集精確，同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過(guò)壓過(guò)流保護(hù)裝置，使儀器。
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HCDH-200高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2025-05-30

型號(hào)：HCDH-200

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高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器是根據(jù)GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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GBT 1409-2006優(yōu)質(zhì)介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-05-30

型號(hào)：GBT 1409-2006

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優(yōu)質(zhì)介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀符合標(biāo)準(zhǔn)： GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
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工頻介電常數(shù)測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-05-30

型號(hào)：

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工頻介電常數(shù)測(cè)試儀：主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測(cè)量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容量（ Cx），其測(cè)量線路采用“正接法”即測(cè)量對(duì)地絕緣的試品
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